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              德國超聲波掃描顯微鏡

              簡要描述:名稱:德國超聲波掃描顯微鏡
              型號:V-400E
              產地:德國
              應用:晶圓面處分層缺陷;錫球、晶圓、或填膠中的開裂;晶圓的傾斜;各種可能之孔洞(晶圓接合面、錫球、填膠…等)

              • 產品型號:V 400E
              • 廠商性質:生產廠家
              • 更新時間:2020-07-06
              • 訪  問  量:3308

              詳細介紹

              名稱:德國超聲波掃描顯微鏡

              產品介紹:

              名稱:德國超聲波掃描顯微鏡

              型號:V-400E

              產地:德國

              應用:晶圓面處分層缺陷;錫球、晶圓、或填膠中的開裂;晶圓的傾斜;各種可能之孔洞(晶圓接合面、錫球、填膠等)

               

              產品應用:

              聲掃顯微鏡應用領域:

              • 半導體電子行業:半導體晶圓片、封裝器件、大功率器件IGBT、紅外器件、光電傳感器件、SMT貼片器件、MEMS等;
              • 材料行業:復合材料、鍍膜、電鍍、注塑、合金、超導材料、陶瓷、金屬焊接、摩擦界面等;
              • 生物醫學:活體細胞動態研究、骨骼、血管的研究等

              在失效分析中的應用:

              • 晶圓面處分層缺陷
              • 錫球、晶圓、或填膠中的開裂
              • 晶圓的傾斜
              • 各種可能之孔洞(晶圓接合面、錫球、填膠…等)

              聲掃顯微鏡的在失效分析中的優勢:

              • 非破壞性、無損檢測材料或IC芯片內部結構
              • 可分層掃描、多層掃描
              • 實施、直觀的圖像及分析
              • 缺陷的測量及缺陷面積和數量統計
              • 可顯示材料內部的三維圖像
              • 對人體是沒有傷害的
              • 可檢測各種缺陷(裂紋、分層、夾雜物、附著物、空洞、孔洞等)

               

              主要參數:

              • -該型號顯微鏡系統是實驗室、研發和工業生產線主流機型。
              • - 掃描速度可達:2000mm/s
              • - 與其它品牌機型相比掃描效率高30%
              • - 大掃描范圍:400mm×400mm
              • - 小掃描范圍:200μm×200μm
              • - 射頻大帶寬:500MHz
              • - 新型FCT防誤判探頭

               

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